XED4900E變頻介質損耗測試儀簡介：
1.本儀器用于現(xiàn)場抗干擾介損測量，或試驗室精密介損測量。
2.儀器為一體化結構，內(nèi)置介損電橋、變頻電源、試驗變壓器和標準電容器等。
3.采用變頻抗干擾和傅立葉變換數(shù)字濾波技術，全自動智能化測量，強干擾下測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。
4.測量結果由大屏幕液晶顯示，自帶微型打印機可打印輸出。
二，XED4900E變頻介質損耗測試儀主要技術指標
準確度： Cx:±(讀數(shù)×1%+1pF) tgδ:±(讀數(shù)×1%+0.00040)
抗干擾指標： 變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述準確度 電容量范圍： 內(nèi)施高壓：3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV 外施高壓：3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV 分辨率：*0.001pF，4位有效數(shù)字 t gδ范圍：不限，分辨率0.001%， 電容、電感、電阻三種試品自動識別。 試驗電流范圍：10μA～5A 內(nèi)施高壓： 設定電壓范圍：0.5～10kV *大輸出電流：200mA 升降壓方式：連續(xù)平滑調節(jié) 電壓精度：±(1.5%×讀數(shù)+10V) 電壓分辨率：1V 試驗頻率：45、50、55單頻 頻率精度：±0.01Hz 外施高壓： 正接線時*大試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz 反接線時*大試驗電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz
CVT自激法低壓輸出： 輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A 測量時間：約40s，與測量方式有關 輸入電源：180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電或發(fā)電機供電 計算機接口：標準RS232接口 打印機： 煒煌A7熱敏微型打印機 環(huán)境溫度：-10℃～50℃ 相對濕度：<90%